| 事例名称 |
LSIテスト装置で、DC測定レンジ切替え後の最初の測定誤差が大きかった |
| 代表図 |
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| 事例概要 |
LSIテスト装置で、LSIの電圧／電流測定を行った。ところがDC測定レンジ切替え後の最初の測定で、測定誤差が大きいという不具合が発生した。図2のようにノイズ対策用として、DC測定回路内にCR回路が、被測定電圧入力端子とA／Dコンバータとの間に配置されていた。しかしこのコンデンサの容量に大きなバラツキ（公差-20～+80%)があったため、時定数のバラツキが大きくなり、さらにコンデンサの分極効果で過渡応答時の時定数が徐々に大きくなった。したがってDC測定レンジ切替え直後には、これら誤差を含んだ電圧をA／D変換するため、測定結果の誤差が大きくなってしまった。 |
| 事象 |
LSIテスト装置で、DC測定レンジ切替え後の最初の測定誤差が大きかった。 |
| 経過 |
図2のようなLSIテスト装置で、LSIの電圧／電流測定を行った。ところがDC測定レンジ切替え後の最初の測定で、測定誤差が大きいという不具合が発生した。調査したところ、ノイズ対策用のコンデンサの容量にバラツキが多いことが判明した。 |
| 原因 |
図2のように、ノイズ対策用として、DC測定回路内にCR回路が、被測定電圧入力端子とA／Dコンバータとの間に配置されていた。しかしこのコンデンサの容量に大きなバラツキ（公差-20～+80%)があったため、時定数のバラツキが大きくなり、さらにコンデンサの分極効果で過渡応答時の時定数が徐々に大きくなった。したがってDC測定レンジ切替え直後には、これら誤差を含んだ電圧をA／D変換するため、測定結果の誤差が大きくなってしまった。 |
| 知識化 |
時定数回路を構成する部品の選定には、公差や特性を考慮する。なお分極効果とは、外部から加えている電圧と逆方向に起電力を発生して、電力を流れにくくする現象である。 |
| シナリオ |
| 主シナリオ
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不注意、注意・用心不足、企画者不注意、誤差設定不適、電子機器、試験、計画・設計、計画不良、不良現象、電気故障、回路、特性、出力特性
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| 情報源 |
創造設計エンジンDB
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| マルチメディアファイル |
図2.LSIテスト装置によるDC測定回路
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| 分野 |
機械
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| データ作成者 |
張田吉昭 (有限会社フローネット)
中尾政之 (東京大学工学部附属総合試験所総合研究プロジェクト・連携工学プロジェクト)
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