| 事例名称 |
電子機器が動作不良となった |
| 代表図 |
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| 事例概要 |
強い振動環境のもとで、電子機器を稼動していたところ、突然動作不良を起こした。トランジスタのキャップを封止する際に発生した封止スパッタ（ニッケル微粒子の異物）が、キャップ内に閉じ込められ、このスパッタが、振動で移動し、ボンディングワイヤとストライプエリア間をショートさせたためであった。対策として、キャップ封止部のステムへの接触面を広くし、封止スパッタが発生しない構造に変更した。 |
| 事象 |
強い振動環境下で稼動の電子機器が突然動作不良となった。 |
| 経過 |
強い振動環境のもとで、電子機器を稼動していたところ、突然動作不良となった。調査したところ、図1のように、トランジスタのショート不良が発見された。 |
| 原因 |
トランジスタのキャップを封止する際に発生した封止スパッタ（ニッケル微粒子の異物）が、キャップ内に閉じ込められ、このスパッタが、振動で移動し、図1のように、ボンディングワイヤとストライプエリア間をショートさせた。 |
| 対策 |
キャップ封止部のステムへの接触面を広くし、封止スパッタが発生しない構造に変更した。 |
| 知識化 |
気密封止内部の導電性異物は、強い振動環境下では動き出し、半導体素子の露出している金属間でショート不良を起こさせる恐れがある。導電性異物の混入を防止することが大切である。なお、中空部品の異物の有無を確認するテストとして、微粒子衝撃雑音検出テスト（PINDテスト：Particle Noise Detection Test) がある。 |
| シナリオ |
| 主シナリオ
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不注意、理解不足、生産工程の配慮不足、不注意、注意・用心不足、組立作業、電子機器、計画・設計、流用設計、製作、ハード製作、組立、使用、運転・使用、不良現象、電気故障、電気接点、短絡、機能不全、ハード不良、機械・装置、動作不能
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| 情報源 |
創造設計エンジンDB
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| マルチメディアファイル |
図1.異物によるショート
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| 分野 |
機械
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| データ作成者 |
張田吉昭 (有限会社フローネット)
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